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產(chǎn)品介紹

C-flat?是最適于低溫透射電鏡（cryo-TEM）用的一種新款多孔碳支持膜。C-flat?具有超平的表面；有孔的碳膜被覆在透射電鏡專用的網(wǎng)上（提供銅網(wǎng)和金網(wǎng)兩大類）。C-flat?采用整體制造工藝，到達(dá)客戶手中的產(chǎn)品保證整潔，無任何多余的碳膜渣殘留。

特性：

專利技術(shù)制造，超平的碳膜可使待觀察顆粒分散更均勻，為冰層厚度均勻打下良好的基礎(chǔ)。膜上的花樣孔采用深紫外光刻印制技術(shù)，確保了孔大小的精確（精確至微米級(jí)別）；同時(shí)確保了孔型的連續(xù)性，精細(xì)的制造技術(shù)完全消除了多于的碳和碳膜孔產(chǎn)生的邊角料。

應(yīng)用：

 C-flat?有孔碳支持膜對(duì)利用低溫透射電鏡獲得高分辨率的數(shù)據(jù)信息提供了非常理想的樣品支撐。主要應(yīng)用于以下兩個(gè)方面：

低溫電子斷層掃描術(shù)（cryo-ET）和單一微粒分析（single particle analysis，SPA）

大量的科學(xué)研究人員報(bào)道，C-flat?超平的膜表面使得研究對(duì)象更均勻的分布膜上孔區(qū)域，膜上冰層厚度的均一性也大大提高。與其它有孔碳膜相比，最佳的微粒分布特性可以采集到最理想的數(shù)據(jù)信息。膜上標(biāo)準(zhǔn)的孔大小為2μm，同時(shí)提供的還有其它大小的孔徑，也可以根據(jù)你的需要定制，因此C-flat?可在普通放大倍率下進(jìn)行TEM定量分析。

自動(dòng)化低溫透射電鏡（automated TEM）

C-flat?分析位點(diǎn)的規(guī)則排列（以及微粒分布均勻和冰層厚的均一），可以使用Leginon軟件進(jìn)行信息的自動(dòng)控制和采集，兩者可以兼容。

C-flat有孔碳支持膜常規(guī)參數(shù)：

1. 標(biāo)準(zhǔn)型膜厚度是10-20nm，厚型膜厚度是20-40nm，需要厚型的要電話聯(lián)系我們；

2. 所用的銅網(wǎng)只有200目和400目?jī)煞N，金網(wǎng)有200、300、400目可選；

3. 金網(wǎng)上膜的厚度是標(biāo)準(zhǔn)厚度，包裝只有100個(gè)/盒可選；